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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
di Joy David C., Newbury Dale E., Lyman Charles E., Goldstein Joseph, Echlin PatrickMomentaneamente non ordinabile Aggiungi a lista dei desideri
Prezzo: € 76,91
Editore: Springer Verlag
ISBN: 9781461349693
Collana:
Anno Edizione: 2013
