Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Joy David C.,
Newbury Dale E.,
Lyman Charles E.,
Goldstein Joseph,
Echlin Patrick
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- Titolo: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
- Autore: Joy David C., Newbury Dale E., Lyman Charles E., Goldstein Joseph, Echlin Patrick
- Curatore:
- Traduttore:
- Illustratore:
- Editore: Springer Verlag
- Collana:
- Data di Pubblicazione: 2013
- Pagine: 720
- Formato:
- ISBN: 9781461349693
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